EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

ГЭТ 111-85 Государственный специальный эталон единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2 - 1,0 ГГц

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Государственный специальный эталон единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2 - 1,0 ГГц утвержден Постановлением Госстандарта от 17.10.1985 г. № 118. В основу эталона положен принцип сравнения бикомплексной проницаемости расчетных отрезков линии передачи с воздушным заполнением с отрезками того же диаметра, заполненными исследуемым материалом.

Состав эталона:

  • комплект эталонных двухполюсников;
  • комплект эталонных четырехполюсников;
  • компаратор для воспроизведения бикомплексной проницаемости и передачи ее размера вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда.

Метрологические характеристики:

Диапазон измерений

действительная часть (относительные диэлектрическая и магнитная проницаемости) 1-10

мнимая часть (тангенсы угла диэлектрических и магнитных потерь) 1·10-4-1

СКО результата измерений

действительная часть 1·10-4

мнимая часть 2·10-2-1·10-1

НСП

действительная часть 2·10-4

мнимая часть 5·10-2-2·10-1

Назначение и область применения:

  • калибровка приборов, используемых для измерения электромагнитных параметров радиоматериалов;
  • контроль параметров при технологическом процессе разработки и изготовлении композиционных материалов;
  • калибровка аппаратуры контроля параметров подложек микросхем для электроники;
  • калибровка аппаратуры контроля влажности материалов диэлектрическими методами.

Институт – хранитель ГСЭ ФГУП "СНИИМ".


Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
15.05.1859
Родился французский учёный, физик, один из первых исследователей радиоактивности
Пьер Кюри
Конвертер единиц измерения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.